전자기 간섭 방출(EMI) 테스트

21세기에 들어서서 전자 장치에서 발생하는 전자기 교란으로 인해 동일한 환경 내의 다른 장치에 간섭 또는 오작동이 발생하는 문제가 증가하고 있습니다.

EMI 테스트는 전자 장치에서 발생할 수 있는 모든 유형의 방출 파형이 해당 장치 유형에 대해 사전에 정의된 안전한 한도 이내에 있는지를 철저히 확인하는 과정입니다. 이 중요한 테스트를 통해, 장치가 다른 장치의 기능에 부정적인 영향을 미치지 않고, 또한 다른 전자기 방출로 인해 자신의 작동이 영향을 받지 않는다는 것을 보장할 수 있습니다. 이는 전자 장치가 상호 간섭 없이 공존할 수 있는 환경을 조성하며, 사용자들에게 더욱 신뢰할 수 있는 제품을 제공할 수 있도록 합니다.

EMI 테스트는 전자기 호환성(EMC) 기준을 충족하는지를 평가하여, 장치가 규정된 표준에 부합하게 설계되고 제조되었는지를 검증합니다. 이 과정에서는 장치가 발생시킬 수 있는 각종 방출 파형을 세밀하게 분석하고, 이러한 방출이 다른 전자 장치의 정상적인 작동을 방해하지 않도록 관리합니다. 따라서, EMI 테스트는 단순히 기술적인 요구 사항을 충족하는 것을 넘어서, 사용자들이 더욱 안정적이고 효율적인 전자 환경에서 생활할 수 있도록 하는 데에 중요한 역할을 합니다.

종합적으로, EMI 테스트는 전자 장치의 설계와 제조 과정에서 필수적인 단계로, 이는 장치들이 상호 작용하는 현대의 복잡한 전자 환경에서 필수적인 요소입니다. 이를 통해, 장치들은 서로를 방해하지 않으면서도 최적의 성능을 발휘할 수 있으며, 이는 곧 소비자의 만족도와 신뢰도를 높이는 결과로 이어집니다.

Nemko는 다양한 유형의 측정 및 장치에 대한 EMC 방출 테스트, 컨설팅 및 인증 서비스를 제공합니다. 이 테스트 범위에는 다음이 포함됩니다.

• 전도 방출 테스트: AMN, 전압 프로브, 전류 프로브, 통신 포트 및 불연속 방법
• 삽입 손실(Insertion loss)
• 방사 전자기장(Van Veen Loop)
• 교란 전력(Disturbance power)
• 전도 공통 단자 전압(Conducted common-mode terminal voltage)
• 복사 방출(Radiated emissions)
• 고조파 전류 방출(Harmonic current emissions)
• 플리커 및 전압 변동(Flicker and voltage fluctuations)