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    HALT/HASS試験

    HALT(Highly Accelerated Life Tests)試験とHASS(Highly Accelerated Stress Screens)試験は、従来の試験方式より高速かつ高い効率で障害を発見するよう設計されています。HALT/HASSは、開発中の製品の設計と試験の段階をスピードアップし、現場や消費者の使用時の故障を軽減します。堅牢で信頼性の高い製品設計は、時間とコストの節約につながります。

    HALT/HASS試験の目的は、製品に起こりうる故障モードと設計上の欠陥を明らかにすることです。従来の信頼性/資格試験に比べ、そのような弱点が数週間ではなく数日でわかります。これにより開発時間が短縮されるとともにコストが削減されます。また、基準に達しない製品のリリースを防ぐため、メーカーによる保証費用の削減、コストの高い運用中のダウンタイム防止にもつながります。

    HALT/HASS技術は1990年代、簡単な熱衝撃チャンバーと振動台として発表されました。現在では、製品に極度のストレスをかけ、従来の方法では見逃されていた設計上の欠陥を短時間で発見するための総合的な試験システムとなっています。

    試験はどのように実施しますか?

    試験チャンバーは極度の温度変化、反復的な衝撃、振動を組み合わせ、短時間でストレス試験を実行します。試験では-100°C200°Cの高速温度変化の中で、75gRMS105,000 Hz)のランダム振動を6自由度(DOF)で適用します。熱チャンバーの調整システムは、真空ジャケット液体窒素冷却およびニクロム線加熱を備え、ランプレートは60100°C/分です。

    このような試験でどのようなエラーや故障が明らかになりますか?

    HALT/HASS

    1.設計上の欠陥

    • 周波数マージンが不十分
    • 取り付け点
    • 材料の選択 

    2.生産上のミス

    • 汚染による初期故障
    • はんだの欠陥
    • 潜在欠陥

    3.部品の欠陥

    • 基板レイアウト設計
    • 基板部品の重量

    HALTHASSの違いは?

    HALTHighly Accelerated Life TestsHASSHighly Accelerated Stress Screenは、いずれも短時間で行う試験に使用されます。  用語の違いは製品の開発段階に基づきます。HALT試験は、開発早期に製品のベアコンポーネントとサブアセンブリ(機能的なサブアセンブリ)に対して実施します。  短時間でストレスをかけるため、高速での温度変化に重点を置きます。一方、製造準備のできた完全な製品にはHASS試験を実施します。ここでは、機械的試験の方に重点を置き、極度の高温と低温にさらす時間が長くなります。製品内の部品に急激な温度変化が生じることは少ないためです。

    お客様の製品にはこの種類の試験が適切ですか?

    重要な製品の耐久性を確認するため、多くの業界でHALT/HASS試験が利用されています。たとえば航空機、船舶、オフショア業界で使用される製品、あるいは燃焼エンジンの部品は、振動、極度の高温や低温、急速な温度変化など過酷な環境に耐える必要があります。これらの試験方式は、業界を問わず多くの研究開発(R & D)部門にも有益です。ストレス試験プロトタイプにより製品の弱点を早期に発見し、設計段階の早期に修正したり、他のソリューションと変更したりできます。このため設計の後期に遅延や設計修正の大きなコストが生じません。

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